ZETA電位儀可測量濃度低的溶液到濃度高的溶液的ZETA電位粒徑及分子量。粒子表面存在的凈電荷，影響粒子界面周圍區(qū)域的離子分布，導致接近表面抗衡離子濃度增加。于是，每個粒子周圍均存在雙電層。
繞粒子的液體層存在兩部分：一是內層區(qū)，稱為緊密層，其中離子與粒子緊緊地結合在一起；另一個是擴散層，其中離子松散地與粒子相吸附。
在分散層內，有一個抽象邊界，在邊界內的離子和粒子形成穩(wěn)定實體。當粒子運動時，在此邊界內的離子隨著粒子運動，但此邊界外的離子不隨著粒子運動。這個邊界稱為流體力學剪切層或滑動面。在這個邊界上存在的電位即稱為ZETA電位。
談粒度不得不說ZETA電位，很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、ZETA電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會影響樣品穩(wěn)定性，而ZETA電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個參數(shù)。
ZETA電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。現(xiàn)代儀器可以通過簡便的手段快速準確地測得。大致原理為：通過電化學原理將ZETA電位的測量轉化成帶電粒子淌度的測量，而粒子淌度的測量測是通過動態(tài)光散射，運用波的多普勒效應測得。
雙電層的厚度與溶液中的離子濃度有關，可根據(jù)介質的離子強度進行計算，離子強度越高，雙電層愈壓縮同，離子的化合價也會影響雙單層的厚度，三價離子(Al3+)將會比單價離子(Na+)更多的壓縮雙電層。
研究樣品中的添加劑濃度對產(chǎn)品ZETA電位的影響可為研發(fā)穩(wěn)定配方的產(chǎn)品提供有用的信息，樣品中已知雜質對ZETA電位的影響可作為研制抗絮凝的產(chǎn)品的有力工具。
更新時間：2026-04-07
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接觸角測量儀